高精度薄膜测厚仪(0.1μm)

型号：DRK-204A

薄膜检测仪对薄膜，测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等，并且可以与计算机连接通讯，实现数据自动处理，从而提高了检验速度，了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感，经济实用，适合于薄膜企业的，控制和计量检测单位或的检测使用。
构成： 由光电传感器、测量座、抬落、数显表等部分组成。
特点：检定快速，准确。测量值由数显表直接显示，读数方便，减少人为读数误差；使仪器结构稳定性很高，温度稳定性很好；测量重复性好，漂移量很小。可实现位置清零、
公/英制转换、预先置数、自动求，值和，值等多种功能；可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等；对环境温度波动相对不敏感，现有基层计量室不
提高温控要求即可使用。
主要参数
数显分辨率：0.1μm
示值误差：±(0.4+0.04L)μm
测量范围：0-10mm