GSKDY测量系统微控制器及配套软件，于硅晶体的电阻率测量，集多种测量方法为一体，是与电阻率测试仪配套使用，自动获取电压读数，计算并修正电阻率值，数据自动保存，快速查询，提供打印及导出格式，操作简单，方便，。

测量系统（含通讯）设计语言：VC++
可对四探针、两探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线兼容性：适用于%电脑，支持 Windows XP、Vista

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